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【中标】新微半导体发布多项中标公告,涉及步进式光刻机等

来源:爱集微

#中标#

#新微半导体#

09-20 18:38

集微网消息,9月20日,上海新微半导体有限公司(以下简称“新微半导体”)发布步进式光刻机、红外热成像测试仪、失效分析显微测试系统等多项中标公告。

其中,佳能株式会社中标1台步进式光刻机,用于4英寸&6英寸晶圆曝光工艺;ALLTEK COMPANY USA INC中标1台红外热成像测试仪和1台失效分析显微测试系统,红外热成像测试仪能够测量分析GaN、SiC、GaAs、InP&GaSb射频、功率、光电等高端器件/芯片的发热温度,失效分析显微测试系统能够侦测GaN、SiC、GaAs、InP&GaSb射频、功率、光电等器件/芯片上的漏电流、氧化层缺陷、各种电路连接的短路、高阻态等各种缺陷和故障。

新微半导体成立于2020年,专注于为光电、射频和功率三大化合物半导体应用领域提供芯片制造平台,产品服务于工业、消费电子、通信、生物医疗、汽车、新能源、微波、人工智能与大数据等众多应用领域。(校对/赵碧莹)

责编: 赵碧莹

魏健

作者

微信:v_-aurora

邮箱:weijian@ijiwei.com

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专注于半导体,欢迎咨询沟通,weijian@ijiwei.com

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